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Katalog-Nr. | CY3610 |
Material | Si-Kristall |
Durchmesser | 1-12 Zoll |
Wachstumsmethode | CZ, MCZ, FZ |
Klasse | Prime, Test, Dummy |
Zero Diffraction Plate für XRD ist aus Si-Einkristall gefertigt und dient als Probenträger. Stanford Advanced Materials (SAM) hat reiche Erfahrung in der Herstellung und Lieferung hochwertiger optischer Produkte.
Verwandte Produkte: Silizium-Wafer, Galliumnitrid-Wafer, Saphir-Wafer, Siliziumkarbid-Wafer, Germanium-Wafer (Ge-Wafer).
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