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CY3610 Null-Beugungsplatte für XRD, Si-Kristall

Katalog-Nr. CY3610
Material Si-Kristall
Durchmesser 1-12 Zoll
Wachstumsmethode CZ, MCZ, FZ
Klasse Prime, Test, Dummy

Zero Diffraction Plate für XRD ist aus Si-Einkristall gefertigt und dient als Probenträger. Stanford Advanced Materials (SAM) hat reiche Erfahrung in der Herstellung und Lieferung hochwertiger optischer Produkte.

Verwandte Produkte: Silizium-Wafer, Galliumnitrid-Wafer, Saphir-Wafer, Siliziumkarbid-Wafer, Germanium-Wafer (Ge-Wafer).

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