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ZN2277 Substrate für Zinkoxidwafer

Katalog-Nr. ZN2277
Material ZnO
Kristallstruktur Sechseckig
Brechungsindex 2.0681/2.0510

SAM bietet Zinkoxid-Wafer-Substrate mit einer Größe von 10 x 10 x 0,5 mm an. Wir wählen immer erstklassige und fehlerfreie Wafer als Substrat für das Aufwachsen einer hochgradig gleichmäßigen thermischen Oxidschicht, um Ihre spezifischen Anforderungen zu erfüllen.

Verwandte Produkte: Indium-Antimonid-Wafer, Siliziumkarbid-Wafer, Galliumphosphid-Wafer, Silizium-Wafer, 1851 Germanium-Wafer (Ge-Wafer).

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ZN2277 Zinc Oxide Wafers Substrates
ZN2277 Zinc Oxide Wafers Substrates
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