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Katalog-Nr. | CY3439 |
Kompositionen | Ag, Cr, SiO2, Si |
Dicke der Beschichtung | Cr 2-7nm Ag 50nm |
Größe | 4", 50mm, 100mm Durchmesser, oder kundenspezifisch |
Dicke | 0,525 mm, 0,279 mm |
Polieren | Eine Seite poliert |
Ag/Cr-beschichtetes SiO2/Si-Substrat kann im Nanobereich, in der Rasterelektronenmikroskopie (SEM), der Rasterkraftmikroskopie (AFM) und anderen Rastersondenmikroskopen verwendet werden. Stanford Advanced Materials (SAM) hat reiche Erfahrung in der Herstellung und Lieferung hochwertiger optischer Produkte.
Verwandte Produkte: Aluminium Film auf Silizium Wafer, Au/Ti beschichtetes SiO2/Si Substrat, Au/Cr beschichtetes SiO2/Si Substrat, Pt beschichtetes SiO2Si Substrat
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