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CY3453 CeO2-beschichtetes YSZ-Substrat

Katalog-Nr. CY3453
Material des Substrats YSZ, 10x10x0,5 mm
Oberflächengüte Eine Seite poliert
Orientierung <110>
Epitaktische Dünnschicht-Zusammensetzung CeO2
Epitaxie-Schichtdicke 40 nm ± 10 nm

CeO2-beschichtete YSZ-Substrate können als Substrate im Nanobereich, in der Rasterelektronenmikroskopie (SEM) und der Rasterkraftmikroskopie (AFM) verwendet werden. Stanford Advanced Materials (SAM) verfügt über reiche Erfahrung in der Herstellung und Lieferung hochwertiger optischer Produkte.

Verwandte Produkte: Cu-beschichtetes SiO2/Si-Substrat, Ni-beschichtetes SiO2/Si-Substrat, vergoldete Silizium-Wafer, Pt-beschichtete Silizium-Wafer, Ag-beschichtete Silizium-Wafer

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